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ICT测试盲点缘故原由剖析

时间:2020-08-25| 作者:admin


[敏感词]由ICT测试装备厂家尊龙凯时人生就是搏为各人剖析ICT测试盲点的缘故原由。?

 

1.当电阻与跳线并联时,无法丈量电阻

 

2.无法丈量与跳线并联的电感(或变压器,继电器)。

 

3.电感的过失部分是跳线或短路,无法测试。

 

4.小型电容器与小型电阻器并联毗连,无法丈量小型电容器。

 

5.电感与电阻器或电容器及其他组件并联毗连。电阻或其他组件无法丈量。

 

6.二极管以相同偏向并联毗连,并且检测不到缺失的部件之一或空焊。

 

7.不可丈量与小电阻并联组件并联的组件。

 

8.电容器的电容太小,测试通常禁绝确。

 

9. IC,晶体振荡器,可调电阻器(VR),热敏电阻,浪涌吸收器和其他组件的内部性能无法丈量或无法准确测试。

 

10.二极管和晶体管与大电容器并联毗连,无法丈量二极管和晶体管。

 

11.组件的崎岖点在统一个短路组中,并且这些组件不可测试。

 

12.在IC空焊测试历程中,若是被测IC的引脚和电容器并联毗连,则该引脚如坚决开则不可举行测试。

 

13.小电容器与大电容器(C1 // C2)并联毗连,无法丈量小电容器。一样平常来说,C2的电容是C1的10倍以上。C1是不可展望的。

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